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明导白皮书免费下载：使用诊断驱动的良率分析克服系统性良率限制因素

  Sky News     四月 26, 2021

摘要 诊断驱动的良率分析 (DDYA) 技术利用生产测试结果、批量扫描诊断和统计分析来查找 IC 芯片中导致良率损失的原因。它能协助逐步提升新制造工艺的良率，改善成熟工艺的良率，以及满足汽车 IC  ...查看更多

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